冷熱沖擊試驗(yàn)箱周期穩(wěn)定

簡(jiǎn)要描述：冷熱沖擊試驗(yàn)箱周期穩(wěn)定
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

產(chǎn)品型號(hào)： TSD-80F-2P

所屬分類(lèi)：二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2025-05-21

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

冷熱沖擊試驗(yàn)箱周期穩(wěn)定

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
9、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估

皓天冷熱沖擊試驗(yàn)箱圖片：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱周期穩(wěn)定

樣品隔層架對(duì)試驗(yàn)物的承重量：2.5kg以?xún)?nèi)，如有超重的測(cè)試物請(qǐng)下單時(shí)注明。
高溫上升時(shí)間約：40min
低溫下降時(shí)間約：80min
高溫槽溫度zui高可儲(chǔ)存至：60℃~200℃
低溫槽溫度zui低可儲(chǔ)存至：-70℃~-10℃
溫度移動(dòng)沖擊時(shí)間在：10秒鐘內(nèi)
溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時(shí)間在：3~5分鐘內(nèi)

此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，

強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。